生命科学関連特許情報

タイトル:公開特許公報(A)_偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法
出願番号:2010025194
年次:2011
IPC分類:G01N 21/956


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井村 圭太 渡辺 康弘 四宮 由隆 JP 2011163846 公開特許公報(A) 20110825 2010025194 20100208 偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法 住友化学株式会社 000002093 中山 亨 100113000 坂元 徹 100151909 井村 圭太 渡辺 康弘 四宮 由隆 G01N 21/956 20060101AFI20110729BHJP JPG01N21/956 Z 3 1 OL 7 2G051 2G051AA73 2G051AB02 2G051BA06 2G051CA04 2G051CB02 2G051EA08 2G051EA23 2G051EB01 本発明は、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法に関するものである。詳しくは偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検査する方法に関するものである。 液晶テレビなどは、液晶パネルの両面に偏光板をクロスニコルに貼合して製造される。欠陥検査は使用する原材料、主要な製造工程で得られる部材について行われるが、偏光板を貼合した液晶パネルについても行われる。 偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法として、液晶パネルを駆動させて行う方法もあるが、電荷をかけるドライバーの搭載などが必要であり、欠陥が検出された場合に補修、やり直しをするためにドライバーの取外しなどの手間がかかる。従って、ドライバーを搭載せずに、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルが駆動していない状態で、検査するのが好ましい。 液晶パネルが駆動していない状態で可視光が透過しないノーマルブラックの液晶である場合について、液晶パネル内の異物を検査する方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。この方法で液晶パネル内の異物を輝点として検出している。 しかしながら、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥としては、糊状物、フィルムの切屑などの異物、空気の巻き込み、切り傷など、多様であり、これらは、その形態などによって検出されないことがある。従来方法では検出が難しい、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検出できる方法が望まれている。特開2004−77261号公報 本発明は、従来方法では検出が難しい、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できる方法を提供することを目的とする。 本発明者は、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で検査する方法について鋭意検討した結果、近赤外線を照射して検査することによって、従来方法では検出が難しい欠陥を検出できることを見出し、発明を完成するに至った。 すなわち本発明は、偏光板を貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、近赤外線を照射して検査することを特徴とする偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法である。 本発明の方法によって、従来方法では検出できない偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できるという効果を奏する。本発明における欠陥検査装置の模式図である。偏光板がクロスニコル状態の時の光透過性を模式的に示す。 偏光板および液晶パネルは製造された時点で、通常、それぞれ欠陥検査が行われており、欠陥のない偏光板および液晶パネルを用いて貼合するものの、欠陥を検出できずに欠陥を有する偏光板や液晶パネルが紛れ込んだり、貼合時に異物や空気を巻き込んだりして、偏光板を貼合した液晶パネルに欠陥が存在することがある。 偏光板は、通常、偏光フィルムの両面に保護フィルムが貼合され、その表面にプロテクトフィルム、セパレートフィルムが粘着剤を介して貼合された構成をしている。 主な欠陥としては、セパレートフィルムを剥離し、液晶パネルに偏光板を貼合する際のフィルムの切屑などの異物や空気の巻き込み、粘着剤の塊、傷付きなどである。 なお、液晶テレビなどにおいて、偏光板の上に更に位相差板、防眩フィルムなどが貼合されることがあるが、通常、これらは予め貼合して多層フィルムとし、これを液晶パネルに貼合することが多い。本発明においては、この多層フィルムを貼合した液晶パネルについても対象とする。 欠陥検査は、偏光板を貼合した液晶パネルの一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光(該液晶パネルを透過した透過光)を検出して行う。図1に欠陥検査装置の模式図を示す。偏光板を貼合した液晶パネル1の下方に光源2を、上方にカメラ3を配置し、偏光板を貼合した液晶パネルを移動させながら検査を行う。カメラからの信号を信号処理装置4で処理し、欠陥の有無を判断する。 本発明においては、近赤外線を照射して検査する。この近赤外線を発する光源の例としてハロゲンランプが挙げられる。例えば色温度3500°Kのハロゲンランプでは波長が約700nm近傍をピークに300〜780nmの可視光及び780〜2000nmの近赤外光を発する。 偏光板がクロスニコルに貼合され、液晶パネルが駆動していない状態では可視光は殆ど透過しないが、近赤外線はかなり透過する。図2に偏光板がクロスニコル状態の時の光透過性(実線)を模式的に示す。 透過光を検出するカメラとして、通常、CCDカメラが用いられる。CCDカメラは可視光だけでなく、近赤外線にも感度を有する。図2にCCDの感度特性(破線)を模式的に示す。 カメラからの信号を信号処理装置で処理し、欠陥の検出を行う。得られる信号強度に閾値を設け、それを超える場合に欠陥とする。 例えば、ベースラインを0とし、白(輝度がベースラインより高い)側、黒(輝度がベースラインより低い)側をそれぞれ32000階調で表現し、5000階調を閾値とし、それぞれ5000階調以上である場合に欠陥とする。 目視では確認困難であるが、CCDカメラではブラックマトリクスに由来する格子状のパターンが検出される。この格子状のパターンに対応する周期的なパターンの信号を予め信号処理装置に入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルしてベースラインを設定する。このベースラインからの階調を求める。 尚、用いるCCDカメラの撮像素子としてはラインセンサーであってもよいし、エリアセンサーであってもよい。 以下、検査方法を実施例で示すが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。実施例1 図1に示すと同様に、両面に偏光板を貼合した液晶パネルの下方に光源を、上方にカメラを配置し、両面に偏光板を貼合した液晶パネルを移動させながら欠陥検査を行った。両面に偏光板を貼合した液晶パネルは上下反転させ、すなわちテレビにした場合の表面側および裏面側の両方から検査した。 光源としてハロゲンランプ、カメラとしてCCDカメラを用い、信号処理装置としてOptics画像処理外観検査装置(クボテック(株)製)を用いて行った。 検査対象の偏光板を貼合した液晶パネルは、偏光板スミカラン(登録商標)(住友化学(株)製)のセパレートフィルムを除き、37型テレビ用液晶パネルに貼合したものである。 信号処理装置において、ブラックマトリクスに由来する周期的なパターンをキャンセルするために、それに対応する周期的なパターンの信号を予め入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルしてベースラインを設定した。 ベースラインを0とし、白側、黒側にそれぞれ32000階調を設定し、5000階調を閾値とし、それぞれ5000階調以上である場合に欠陥とした。 欠陥を検出した例を表1に示す。比較例1 実施例1の欠陥を検出した例について、ハロゲンランプの代わりに可視光を発するメタルハライドランプを用いた以外は実施例1と同様に行った。 結果を表1に示す。 表1中、カメラ位置は、液晶パネルのどちらの面をカメラに向けて配置して検査したかを示す。モードは欠陥を黒点、または輝点として検出したかを示し、×は黒点も輝点も検出されなかったことを示す。サイズは欠陥の平面画像のピクセル数で表わす。欠陥形態は拡大鏡で見た欠陥の状況を示す。 上記のとおり、近赤外線を照射して検査する(実施例1)ことによって、従来の可視光を照射して検査する(比較例1)ことによっては検出できなかった欠陥を確実に検出することができる。1 偏光板を貼合した液晶パネル2 光源3 カメラ4 信号処理装置 偏光板を貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、近赤外線を照射して検査することを特徴とする偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法。 近赤外線の光源としてハロゲンランプを用い、CCDカメラを用いて透過光を検出することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。 透過光を検出し、信号処理する際に、信号処理装置にブラックマトリクスに由来する格子状のパターンに対応する周期的なパターンの信号を予め入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルして信号のベースラインを設定することを特徴とする請求項1または2記載の欠陥検査方法。 【課題】従来方法では検出できない偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できる方法を提供する。【解決手段】偏光板を貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、近赤外線を照射して検査することを特徴とし、従来の可視光を照射して検査する方法では検出できない欠陥を検出することができる。【選択図】図1


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特許公報(B2)_偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法

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タイトル:特許公報(B2)_偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法
出願番号:2010025194
年次:2014
IPC分類:G01N 21/956


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井村 圭太 渡辺 康弘 四宮 由隆 JP 5556212 特許公報(B2) 20140613 2010025194 20100208 偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法 住友化学株式会社 000002093 中山 亨 100113000 坂元 徹 100151909 井村 圭太 渡辺 康弘 四宮 由隆 20140723 G01N 21/956 20060101AFI20140703BHJP JPG01N21/956 Z G01N 21/84−21/958 G01M 11/00−11/08 G02F 1/13 特開2007−256106(JP,A) 特開2004−101194(JP,A) 特開2004−077261(JP,A) 特開2005−265503(JP,A) 3 2011163846 20110825 6 20130115 越柴 洋哉 本発明は、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法に関するものである。詳しくは偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検査する方法に関するものである。 液晶テレビなどは、液晶パネルの両面に偏光板をクロスニコルに貼合して製造される。欠陥検査は使用する原材料、主要な製造工程で得られる部材について行われるが、偏光板を貼合した液晶パネルについても行われる。 偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法として、液晶パネルを駆動させて行う方法もあるが、電荷をかけるドライバーの搭載などが必要であり、欠陥が検出された場合に補修、やり直しをするためにドライバーの取外しなどの手間がかかる。従って、ドライバーを搭載せずに、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルが駆動していない状態で、検査するのが好ましい。 液晶パネルが駆動していない状態で可視光が透過しないノーマルブラックの液晶である場合について、液晶パネル内の異物を検査する方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。この方法で液晶パネル内の異物を輝点として検出している。 しかしながら、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥としては、糊状物、フィルムの切屑などの異物、空気の巻き込み、切り傷など、多様であり、これらは、その形態などによって検出されないことがある。従来方法では検出が難しい、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検出できる方法が望まれている。特開2004−77261号公報 本発明は、従来方法では検出が難しい、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できる方法を提供することを目的とする。 本発明者は、偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で検査する方法について鋭意検討した結果、近赤外線を照射して検査することによって、従来方法では検出が難しい欠陥を検出できることを見出し、発明を完成するに至った。すなわち本発明は、両面に偏光板をクロスニコルに貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、近赤外線を照射して検査することを特徴とする偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法である。 本発明の方法によって、従来方法では検出できない偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、検出できるという効果を奏する。本発明における欠陥検査装置の模式図である。偏光板がクロスニコル状態の時の光透過性を模式的に示す。 偏光板および液晶パネルは製造された時点で、通常、それぞれ欠陥検査が行われており、欠陥のない偏光板および液晶パネルを用いて貼合するものの、欠陥を検出できずに欠陥を有する偏光板や液晶パネルが紛れ込んだり、貼合時に異物や空気を巻き込んだりして、偏光板を貼合した液晶パネルに欠陥が存在することがある。 偏光板は、通常、偏光フィルムの両面に保護フィルムが貼合され、その表面にプロテクトフィルム、セパレートフィルムが粘着剤を介して貼合された構成をしている。 主な欠陥としては、セパレートフィルムを剥離し、液晶パネルに偏光板を貼合する際のフィルムの切屑などの異物や空気の巻き込み、粘着剤の塊、傷付きなどである。 なお、液晶テレビなどにおいて、偏光板の上に更に位相差板、防眩フィルムなどが貼合されることがあるが、通常、これらは予め貼合して多層フィルムとし、これを液晶パネルに貼合することが多い。本発明においては、この多層フィルムを貼合した液晶パネルについても対象とする。 欠陥検査は、偏光板を貼合した液晶パネルの一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光(該液晶パネルを透過した透過光)を検出して行う。図1に欠陥検査装置の模式図を示す。偏光板を貼合した液晶パネル1の下方に光源2を、上方にカメラ3を配置し、偏光板を貼合した液晶パネルを移動させながら検査を行う。カメラからの信号を信号処理装置4で処理し、欠陥の有無を判断する。 本発明においては、近赤外線を照射して検査する。この近赤外線を発する光源の例としてハロゲンランプが挙げられる。例えば色温度3500°Kのハロゲンランプでは波長が約700nm近傍をピークに300〜780nmの可視光及び780〜2000nmの近赤外光を発する。 偏光板がクロスニコルに貼合され、液晶パネルが駆動していない状態では可視光は殆ど透過しないが、近赤外線はかなり透過する。図2に偏光板がクロスニコル状態の時の光透過性(実線)を模式的に示す。 透過光を検出するカメラとして、通常、CCDカメラが用いられる。CCDカメラは可視光だけでなく、近赤外線にも感度を有する。図2にCCDの感度特性(破線)を模式的に示す。 カメラからの信号を信号処理装置で処理し、欠陥の検出を行う。得られる信号強度に閾値を設け、それを超える場合に欠陥とする。 例えば、ベースラインを0とし、白(輝度がベースラインより高い)側、黒(輝度がベースラインより低い)側をそれぞれ32000階調で表現し、5000階調を閾値とし、それぞれ5000階調以上である場合に欠陥とする。 目視では確認困難であるが、CCDカメラではブラックマトリクスに由来する格子状のパターンが検出される。この格子状のパターンに対応する周期的なパターンの信号を予め信号処理装置に入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルしてベースラインを設定する。このベースラインからの階調を求める。 尚、用いるCCDカメラの撮像素子としてはラインセンサーであってもよいし、エリアセンサーであってもよい。 以下、検査方法を実施例で示すが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。実施例1 図1に示すと同様に、両面に偏光板を貼合した液晶パネルの下方に光源を、上方にカメラを配置し、両面に偏光板を貼合した液晶パネルを移動させながら欠陥検査を行った。両面に偏光板を貼合した液晶パネルは上下反転させ、すなわちテレビにした場合の表面側および裏面側の両方から検査した。 光源としてハロゲンランプ、カメラとしてCCDカメラを用い、信号処理装置としてOptics画像処理外観検査装置(クボテック(株)製)を用いて行った。 検査対象の偏光板を貼合した液晶パネルは、偏光板スミカラン(登録商標)(住友化学(株)製)のセパレートフィルムを除き、37型テレビ用液晶パネルに貼合したものである。 信号処理装置において、ブラックマトリクスに由来する周期的なパターンをキャンセルするために、それに対応する周期的なパターンの信号を予め入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルしてベースラインを設定した。 ベースラインを0とし、白側、黒側にそれぞれ32000階調を設定し、5000階調を閾値とし、それぞれ5000階調以上である場合に欠陥とした。 欠陥を検出した例を表1に示す。比較例1 実施例1の欠陥を検出した例について、ハロゲンランプの代わりに可視光を発するメタルハライドランプを用いた以外は実施例1と同様に行った。 結果を表1に示す。 表1中、カメラ位置は、液晶パネルのどちらの面をカメラに向けて配置して検査したかを示す。モードは欠陥を黒点、または輝点として検出したかを示し、×は黒点も輝点も検出されなかったことを示す。サイズは欠陥の平面画像のピクセル数で表わす。欠陥形態は拡大鏡で見た欠陥の状況を示す。 上記のとおり、近赤外線を照射して検査する(実施例1)ことによって、従来の可視光を照射して検査する(比較例1)ことによっては検出できなかった欠陥を確実に検出することができる。1 偏光板を貼合した液晶パネル2 光源3 カメラ4 信号処理装置 両面に偏光板をクロスニコルに貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、近赤外線を照射して検査することを特徴とする偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法。 近赤外線の光源としてハロゲンランプを用い、CCDカメラを用いて透過光を検出することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。 透過光を検出し、信号処理する際に、信号処理装置にブラックマトリクスに由来する格子状のパターンに対応する周期的なパターンの信号を予め入力しておき、検出される周期的なパターンの信号をキャンセルして信号のベースラインを設定することを特徴とする請求項1または2記載の欠陥検査方法。


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