生命科学関連特許情報

タイトル:特許公報(B2)_可変ベンチュリーの流量校正方法
出願番号:1999023423
年次:2005
IPC分類:7,G01F1/44,G01F25/00,G01N1/22


特許情報キャッシュ

花城 規之 柴田 淳史 柳原 茂 山脇 秀太 JP 3645730 特許公報(B2) 20050210 1999023423 19990201 可変ベンチュリーの流量校正方法 本田技研工業株式会社 000005326 株式会社司測研 000144968 小山 有 100085257 稲元 富保 230100631 片岡 修 100103126 花城 規之 柴田 淳史 柳原 茂 山脇 秀太 20050511 7 G01F1/44 G01F25/00 G01N1/22 JP G01F1/44 G01F25/00 F G01N1/22 M 7 G01F 1/44 G01F 25/00 G01N 1/22 特開平01−143932(JP,A) 特開平04−310822(JP,A) 国際公開第97/046851(WO,A1) 1 2000221065 20000811 12 20020820 榮永 雅夫 【0001】【発明の属する技術分野】この発明は、定容量サンプリング装置(CVS装置)等に用いられる可変ベンチュリーの校正方法に関するものである。【0002】【従来の技術】自動車等の排気ガス中の成分を分析するために排気ガスを採取する排気ガスサンプリング装置(定容量サンプリング装置)では、希釈ガスを所定の流量にするためにベンチュリーが用いられている。このベンチュリーとしては、固定ベンチュリー(固定体積流量のクリティカル・フロー・ベンチュリー)が従来から用いられていた。一方、近年においては、特開平4−310822号公報、特開平8−75621号公報等に記載されているように、希釈ガスの流量を可変できる可変ベンチュリー(断面積クリティカル・フロー・ベンチュリー)が用いられることがある。排気ガスサンプリング装置(定容量サンプリング装置)を用いた排気ガス成分分析では、希釈ガスの流量管理が大切な要件の一つである。【0003】固定ベンチュリー(固定体積流量のクリティカル・フロー・ベンチュリー)の精度を補償する校正方法として、以下に示す方法が知られている。図18はアメリカ(EPA)の基準に基づく固定ベンチュリーの校正方法の説明図である。固定ベンチュリーの校正は、CVS(Constant Volume Sampler)装置100に校正用治具20を接続して行なう。【0004】CVS装置100は、ダスト,ミスト等を除去・分離するためのサイクロン装置11と、試料採取用のサンプリング管12と、固定ベンチュリー130と、固定ベンチュリー130内の気体の温度を測定する温度計14と、固定ベンチュリー130部の入口側圧力と出口側との差圧を検出するデジタル差圧計15と、図示しないポンプ等を備える。校正用治具20は、取り込む外気を清浄化するためのフィルタ21と、高精度のベンチュリを利用したラミナ流量計22と、弁開度を8ポイント(8段階)以上に切換ができる絞り弁23と、ラミナ流量計22内の気体の温度を測定する温度計24と、ラミナ流量計22の前後の差圧を検出するマノメータ25とを備える。ラミナ流量計22は、CVS装置100に対して原器となる流量計である。【0005】まず、図示しないポンプを作動させて外気を一定量で吸う。そして、固定ベンチュリー130が臨界圧(気体が音速で流れている状態、即ちベンチュリーの後が負圧大、前が正圧または負圧小となっている状態)になっている範囲内で、マノメータ25によって測定されたラミナ流量計22前後の差圧Pと、温度計24によって測定されたラミナ流量計22内の気体の温度Tと、ラミナ流量計22の流量係数(既知)とから式1に基づいて絞り弁23の8ポイントの内1ポイントの流量Qを求める。【0006】【数1】【0007】絞り弁23の開度を変更しないかぎり、校正用治具20(ラミナ流量計22)を用いて測定した流量Qが、固定ベンチュリー130に流れていることになる。すなわち、固定ベンチュリー130が臨界圧になっているときは、校正用治具20で求めた流量QとCVS装置10内の流量は同じである。そこで、校正用治具20で求めた流量Qと、固定ベンチュリー130に設けられた温度計14で測定した気体の温度TCVSと、固定ベンチュリー130に設けられたデジタル差圧計15で測定した差圧PCVSとから式2に基づいて固定ベンチュリー130の流量係数KvCVS(開度n)を求める。【0008】【数2】【0009】絞り弁23の弁開度を変更して上述の作業を繰り返すことで、他の7ポイントについて流量係数KvCVSを求める。すなわち、絞り弁23の弁開度を第1段階にして測定した流量係数KvCVS(開度1)〜絞り弁23の弁開度を第8段階にして測定した流量係数KvCVS(開度8)を求める。そして、各弁開度毎に測定した得られた各流量係数KvCVSの平均値KvCVSAVEと標準偏差σを算出し、標準偏差σが流量係数の平均値KvCVSAVEの例えば0.3パーセント以内であれば、流量係数の平均値KvCVSAVEを固定ベンチュリー130の流量係数KvCVSとして採用する。【0010】【発明が解決しようとする課題】 固定ベンチュリーの流量係数は上述の校正方法によって校正することができる。そして、差圧と温度と校正された流量係数KvCVSとに基づいて固定ベンチュリーの流量を算出することで、CVS装置の流量を所定の精度で管理することができる。これに対して、定流量値を連続的に可変できる可変ベンチュリー(断面積クリティカル・フロー・ベンチュリー)では、可変ベンチュリーの移動位置(基準位置からの移動距離)と流量係数との関係を示す流量係数特性を正確に校正する必要がある。しかしながら、可変ベンチュリー(断面積クリティカル・フロー・ベンチュリー)の流量特性を精度良く校正する方法が提案されていなかった。【0011】この発明はこのような課題を解決するためなされたもので、可変ベンチュリー(断面積クリティカル・フロー・ベンチュリー)の流量特性を精度良く校正することができる可変ベンチュリーの流量校正方法を提供することを目的とする。【0012】【課題を解決するための手段】前記課題を解決するためこの発明に係る可変ベンチュリーの流量校正方法は、一定流量係数を有する流量計と複数ポイント抵抗を変化させることのできる絞り弁とからなる校正用治具を用いて可変ベンチュリーの流量特性を校正する方法であって、可変ベンチュリーの上流側に校正用治具を連結し、可変ベンチュリーの臨界圧以内での複数ポイントで可変ベンチュリーを各所定位置に移動し、各位置毎の流量を校正用治具の流量係数と温度と差圧とから算出し、算出した流量に基づいて各位置毎の可変ベンチュリーの流量係数を算出し、算出した各位置毎の可変ベンチュリーの流量係数に基づいて流量係数特性を求めることを特徴とする。【0013】この発明に係る可変ベンチュリーの流量校正方法は、臨界圧内の複数のポイントで(絞り弁の弁開度を異なえて)可変ベンチュリーの複数の移動位置毎に流量係数を求め、各移動位置毎に複数のポイントで測定した流量係数を平均処理し、各移動位置毎に平均化された流量係数に基づいて流量特性を設定することができる。よって、可変ベンチュリーの流量特性を精度良く校正することができる。したがって、可変ベンチュリーを用いたCVS装置等の流量を精度良く管理することが可能となる。【0014】【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。図1はこの発明に係る可変ベンチュリーの流量校正方法の説明図である。図1に示すCVS装置10は、可変ノズル(可変ベンチュリー)の移動距離に対応して定流量値を可変できる可変ベンチュリー13を備える。この可変ベンチュリー13の校正は、CVS装置10に校正用治具20を接続して行なう。【0015】CVS装置10は、ダスト,ミスト等を除去・分離するためのサイクロン装置11と、試料採取用のサンプリング管12と、可変ベンチュリー13と、可変ベンチュリー13内の気体の温度を測定する温度計14と、可変ベンチュリー13部の入口側圧力と出口側との差圧を検出するデジタル差圧計15と、図示しないポンプ等を備える。【0016】校正用治具20は、取り込む外気を清浄化するためのフィルタ21と、高精度のベンチュリーを利用して構成されたラミナ流量計22と、弁開度を8ポイント(8段階)以上に切換ることができる絞り弁23と、ラミナ流量計22内の気体の温度を測定する温度計24と、ラミナ流量計22の前後の差圧を検出するマノメータ25とを備える。ラミナ流量計22は、流量係数Kvが一定で正確な流量を測定できる流量計である。なお、ラミナ流量計22には温度計24が複数の箇所(例えば5箇所)に設けられている。【0017】可変ベンチュリー13の流量特性の校正は次の手順で行なう。(手順1)CVS装置10に校正用治具20を連結する。(手順2)図示しないポンプを作動させて外気を一定量で吸う。(手順3)絞り弁23の開度を例えば第1段階に設定する。【0018】(手順4)可変ベンチュリー13が臨界圧(気体が音速で流れている状態、即ち可変ベンチュリー13の後が負圧大、前が正圧または負圧小となっている状態)になっている範囲内で、ラミナ流量計22の前後の差圧P(マノメータ25にて測定)と、ラミナ流量計22内の気体の温度T(温度計24にて測定)と、このラミナ流量計22の流量係数Kv(既知の係数)とに基づいて流量Qを計算によって求める。【0019】(手順5)可変ベンチュリー13を0,5,10,15,20……100mm(21点)まで移動させ、手順4で求めた(ルミナ流量計を用いて測定した)流量Qに基づいて可変ベンチュリー13の各移動距離(21点)毎の流量係数KvCFV(n)を求める。(n)は移動距離を示す。【0020】(手順6)絞り弁23の開度を例えば第2段階へ変更する。そして、変更した絞り弁開度で、手順4に示した流量Qの測定ならびに手順5で示した可変ベンチュリー13の各移動距離(21点)毎の流量係数KvCFV(n)の測定を行なう。絞り弁23の全ての開度について、手順4に示した流量Qの測定ならびに手順5で示した可変ベンチュリー13の各移動距離(21点)毎の流量係数KvCFV(n)の測定を行なう。これにより、図2に示すように、絞り弁23の全開度(8段階)のそれぞれについて可変ベンチュリー13の流量特性が得られる。なお、図2において横軸は可変ベンチュリーの移動距離を、縦軸は可変ベンチュリー13の流量係数KvCFVを示す。【0021】(手順7)絞り弁開度毎に測定した可変ベンチュリーの移動距離−流量係数の測定結果のそれぞれについて、図3に示すように、最小自乗法で近似した1次式で直線を引く。可変ベンチュリー13の流量係数KvCFVは、ベンチュリー位置と1次相関があるため直線グラフとなる。そして、最小自乗法で近似した直線グラフと測定結果との誤差が予め設定した許容範囲(例えば±2%以内)であれば、測定結果が正常であるとする。最小自乗法で近似した直線グラフと測定結果との誤差が予め設定した許容範囲(例えば±2%以内)を越えている場合は、再測定を行なう。【0022】(手順8)各ベンチュリー位置(21点)別に流量係数KvCFVの平均値KvCFVAVE(n)と標準偏差σ(n)を算出する。なお、nは移動距離(0,5,10,15,20……100mmである。具体的には、可変ベンチュリーの移動距離0mmについて弁開度が異なる8つの流量係数の測定結果の平均値と標準偏差とを求める。これを各移動距離(0,5,10,15,20……100mmの21点)にそれぞれについて行なう。そして、各移動位置の標準偏差σ(n)がその移動位置における流量係数の平均値KvCFVAVE(n)の例えば0.3%以内であれば、弁開度を異ならしめて測定した一連の測定結果が妥当であるとする。測定結果が妥当であれば、図4に示すように、流量係数の平均値KvCFVAVE(n)をグラフ化する。【0023】絞り弁開度を多段階(8段階)に切り替えて可変ベンチュリーの流量係数を測定しその流量係数の平均値を求めているので、各移動位置における流量係数の平均値KvCFVAVE(n)は精度の高いものとなっている。この精度の高い各移動位置(21点)の流量係数の平均値KvCFVAVE(n)を結ぶため、図5(b)に示すように最小自乗法で多項式(4次)近似を行なう。これにより、図5(a)に示すように、校正された移動距離−流量係数特性を得る。【0024】図6はラミナ流量計を用いた可変ベンチュリーの流量係数校正における計算手順を示す説明図である。図6において、符号22はラミナ流量計(LFE)、符号23は絞り弁、符号13は可変ベンチュリー(CFV)、符号16はポンプである。EPIはラミナ流量計(LFE)前圧、EDPはラミナ流量計(LFE)差圧、ETIはラミナ流量計(LFE)温度である。このラミナ流量計(LFE)22は5本の温度計(温度センサ)を備えており、各温度計で検出した温度ETI1〜ETI5の平均値をラミナ流量計(LFE)温度ETIとして用いるようにしている。PBは大気圧、TVは可変ベンチュリー(CFV)温度、PPIは可変ベンチュリー(CFV)前圧である。EPI,EDP,ETI,PB,PPIはそれぞれ測定値である。AならびにBはラミナ流量計(LFE)の係数である。本実施の形態では、LFE係数A=3.837、LFE係数B=0.000606の値を用いた。【0025】QsはLFE標準流量である。このLFE標準流量Qsは式3用いて算出する。Kvは可変ベンチュリー(CFV)流量係数である。この可変ベンチュリー(CFV)流量係数Kvは式4を用いて算出する。Qnは可変ベンチュリー(CFV)標準流量である。この可変ベンチュリー(CFV)標準流量Qnは式5を用いた算出する。【0026】図7〜図14は可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図である。図7は絞り弁開度を第1段階としたときの測定結果ならびに計算結果を、図8は絞り弁開度を第2段階としたときのものを、同様に図9〜図14は絞り弁開度を第3段階〜第8段階にしたときのものをそれぞれ示している。図7〜図14において、PSNの欄は可変ベンチュリーの移動量(単位:mm)を示している。ETI1〜ETI5の欄はラミナ流量計に設けられた5本の温度計で測定されたそれぞれの温度を示している。各ラミナ流量計温度ETI1〜ETI5の平均値をラミナ流量計温度ETIとする。TVの欄は可変ベンチュリーの温度の測定値を示している。EPIの欄はラミナ流量計前圧の測定値を示し、EDPの欄はラミナ流量計差圧の測定値を示している。PPIの欄は可変ベンチュリーの前圧の測定値を示している。PBの欄は大気圧の測定値を示している。【0027】ラミナ流量計温度ETI,ラミナ流量計差圧EDP,大気圧PBの各測定値、ならびに、LFE係数A(=3.837),LFE係数B(=0.0006.3)を用いて式3に基づいてラミナ流量計標準流量Qsを算出する。次に、算出したラミナ流量計標準流量Qsと、可変ベンチュリー温度TV,可変ベンチュリー前圧PPI,大気圧PBの各測定値とを用いて式4に基づいて可変ベンチュリー流量係数Kvを算出する。なお、図7〜図14中のQnの欄には、式4に基づいて算出した可変ベンチュリー流量係数Kvを用いて、式5に基づいて算出したCFV(可変ベンチュリー)標準流量(1気圧,20℃における流量)を参考値として示している。【0028】図15は図7〜図14に示した各絞り弁開度毎に測定した可変ベンチュリー流量係数の平均値、標準偏差等の計算結果を示す説明図である。図15において、PSNの欄は可変ベンチュリーの移動量(単位:mm)を示している。KvCFVAVEの欄は各絞り弁開度毎に測定した可変ベンチュリー流量係数の平均値を示している。ΣKv2乗の欄は各絞り弁開度の可変ベンチュリー流量係数を2乗した値の合計値を示している。ΣKvの欄は各絞り弁開度の可変ベンチュリー流量係数の合計値を示している。ΣKvを絞り弁開度の段階数8で除算したものが可変ベンチュリー流量係数の平均値KvCFVAVEとなる(KvCFVAVE=ΣKv/8)。σの欄は標準偏差を示している。Df欄は各移動量の標準偏差σがその移動量における流量係数の平均値KvCFVAVEの何パーセントに当るかを示している(σ/KvCFVAVE×100)。判定の欄にはDfが0.3パーセント以内(Df<0.3)であれば判定結果としてOKが、そうでない場合はNGが記される。【0029】図16は図15で求めた可変ベンチュリー流量係数の平均値KvCVFAVE(21点)に基づいて多項式近似を行なった求めた可変ベンチュリー流量係数(校正された流量係数)Kvcと近似式の係数A0〜A4等を示す説明図である。図16において、PSNの欄は可変ベンチュリーの移動量(単位:mm)を示している。KvCFVAVEの欄は各絞り弁開度毎に測定した可変ベンチュリー流量係数の平均値を示している。A0〜A4の欄は流量係数特性を図4(b)に示した4次の多項式で近似した際の各係数を示している。Kvcの欄は4次の多項式で近似した流量特性に基づいて計算した可変ベンチュリーの各移動量(各移動位置)における流量係数(校正された流量係数)を示している。Errの欄は4次の多項式で近似した流量特性((校正された流量係数)と測定によって求めた流量係数の平均値KvCFVAVEとの誤差の比率(百分率)を示している。近似の誤差Errは極めて小さな値となっており、可変ベンチュリーの流量係数特性が4次の多項式によって的確に近似されていることがわかる。【0030】図17は可変ベンチュリーの流量係数特性(校正された流量特性)を示すグラフである。横軸は可変ベンチュリーの移動量(移動距離)である。横軸は流量係数である。実線は校正された流量係数特性を示す。○印は流量係数の平均値KvCVFAVEである。図17に示した流量係数特性のグラフからも可変ベンチュリーの流量係数特性が4次の多項式によって的確に近似されていることがわかる。【0031】以上説明したように本実施の形態では、臨界圧内で絞り弁開度を多段階(8段階)に切り替え、各移動距離(21点)において可変ベンチュリーの流量係数値(KvCFV値)を求め、各移動距離における流量係数値(KvCFV値)の平均値を求め、求めた流量係数値(KvCFV値)の平均値に基づいて可変ベンチュリーの流量特性を多項式近似によって校正するようにしたので、可変ベンチュリーの精度を保証しサンプリングの精度を高くすることができる。【0032】【発明の効果】以上説明したようにこの発明に係る可変ベンチュリーの流量校正方法は、臨界圧内の複数のポイントで(絞り弁の弁開度を異なえて)可変ベンチュリーの複数の移動位置毎に流量係数を求め、各移動位置毎に複数のポイントで測定した流量係数を平均処理し、各移動位置毎に平均化された流量係数に基づいて流量特性を設定することができる。よって、可変ベンチュリーの流量特性を精度良く校正することができる。したがって、可変ベンチュリーを用いたCVS装置等の流量を精度良く管理することが可能となる。【図面の簡単な説明】【図1】この発明に係る可変ベンチュリーの流量校正方法を示す説明図【図2】各絞り弁開度における可変ベンチュリーの移動距離−流量係数の測定結果を示すグラフ【図3】図2に示した各絞り弁開度別の移動距離−流量係数の測定結果を最小自乗法で近似した移動距離−流量係数特性を示すグラフ【図4】複数の絞り弁開度で測定した流量係数の平均値を示すグラフ【図5】流量係数の平均値を多項式(4次)近似して得た移動距離−流量係数特性(校正された流量特性)を示すグラフ【図6】ラミナ流量計を用いた可変ベンチュリーの流量係数校正における計算手順を示す説明図【図7】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その1)【図8】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その2)【図9】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その3)【図10】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その4)【図11】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その5)【図12】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その6)【図13】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その7)【図14】可変ベンチュリーの校正用測定データを一具体例を示す説明図(その8)【図15】図7〜図14に示した各絞り弁開度毎の測定結果に基づく可変ベンチュリー流量係数の平均値、標準偏差等の計算結果を示す説明図【図16】図15で求めた可変ベンチュリー流量係数の平均値KvCVFAVE(21点)に基づいて多項式近似を行なった求めた可変ベンチュリー流量係数(校正された流量係数)Kvcと近似式の係数A0〜A4等を示す説明図【図17】可変ベンチュリーの流量係数特性(校正された流量特性)を示すグラフ【図18】アメリカ(EPA)の基準に基づく固定ベンチュリーの校正方法の説明図【符号の説明】10…CVS装置、13…可変ベンチュリー、14…温度計、15…デジタル差圧計、20…校正用治具、22…ラミナ流量計、23…絞り弁、24…温度計、25…マノメータ。 一定流量係数を有する流量計と弁開度を多段階に切り換えることができる絞り弁とからなる校正用治具を用いて可変ベンチュリーの流量特性を校正する方法であって、前記可変ベンチュリーの上流側に前記校正用治具を連結し、前記可変ベンチュリーの臨界圧以内で前記絞り弁の弁開度を多段階に切り換えるとともに、前記各絞り弁開度において、前記可変ベンチュリーを複数の移動位置に移動させ、前記各絞り弁開度及び前記各移動位置毎の流量を校正用治具の流量係数と温度と差圧とから算出し、前記算出した流量に基づいて前記各絞り弁開度及び各移動位置毎の可変ベンチュリーの流量係数を算出し、前記算出した各位置毎の可変ベンチュリーの流量係数に基づいて流量係数特性を求めることを特徴とする可変ベンチュリーの校正方法。


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